자기 탐상검사의 C형 표준시험편(KS D 0213)

KS D 0213에서 규정하고 있는 C형 표준시험편의 판의 두께는 50㎛, 흠의 깊이는 8 ± 1㎛로 규정되어 있다. C형 표준시험편은 용접부의 개선면 등의 좁은 부분에서 치수적으로 A형 표준시험편의 사용이 곤란한 장소에 A형 표준시험편 대신에 사용하기 위하여 전자 연철판에 흠을 만든 것이다.

명칭	재질
C1	KS C 2504(전자 연철판)의 1종을 어닐링(불활성 가스 분위기 중 600℃에서 1시간 유지, 100℃이하까지 분위기 중에서 서냉)한 것
C2	KS C 2504(전자 연철판)의 1종을 냉간 압연한 그대로의 것

 

1. C형 표준시험편의 특성

C형 표준시험편의 C1은 A1 - 7/50, C2는 A2 - 7/50에 각각 가까운 값의 자기장의 세기에서 자분모양이 나타난다.

 

2. C형 표준시험편의 사용 방법

   1) C형 표준시험편은 분할선을 따라 5mm X 10mm의 작은 조각으로 분리하여 인공 흠이 있는 면이 탐상면에 잘 밀착되도록 적절한 양면 점착테이프 또는 접착제로 탐상면에 붙여 사용한다. 이때 양면 점착테이프의 두께는 100㎛ 이하이어야 한다.

   2) C형 표준시험편에 대한 자분의 적용은 연속법으로 한다.

   3) C형 표준시험편은 초기의 형상, 치수, 자기 특성에 변화를 일으킨 경우에는 사용해서는 안 된다.

   4) C형 표준시험편은 한번 사용하고는 버리는 1회용으로 재사용해서는 안 된다.

   5) 기타 사용상의 일반적인 주의사항은 A형 표준시험편과 같다.