비파괴검사 스터디 내용 정리

A형 표준시험편은 얇은 전자 연철판의 한쪽면에 직선형 또는 원형의 흠을 만든 것으로 그 종류는 흠의 모양, 흠의 길이, 판의 열처리 상태 및 판의 두께에 따라 10종류로 분류하고 있다. 흠의 모양이 직선형은 한정된 방향의 자기장의 세기 및 검사성능을 조사할 때 사용하며 원형은 자기장의 방향과 세기나 검사성능을 조사할 때 사용한다. 시험편의 명칭은 재질의 차이에 따라 A1과 A2로 표시하며 A1은 1류, A2는 2류를 나타낸다. 분수의 분자는 인공흠의 깊이를, 분모는 판의 두께를 ㎛의 단위로 나타낸다.

1. A형 표준시험편의 특성

   1) A형 표준시험편은 연속법으로만 사용해야 한다.

   2) A형 표준시험편에 나타나는 자분모양은 주로 시험체 표면의 자기장의 세기에 좌우되지만 시험체의 재질 및 A형 표준시험편과 시험체 표면의 접촉상태에 따라 영향을 받는다.

   3) 같은 종류로써 흠의 깊이와 판의 두께와의 비가 같은 A형 표준시험편끼리는 자분모양을 나타내는 한계의 자기장 세기를 거의 동일하다.

   4) A형 표준시험편의 A1은 A2보다도 낮은 자기장의 세기에서 자분모양을 나타낸다. 또 그의 분수 값이 적을수록 자분모양을 나타내는데 높은 자기장의 세기를 필요로 한다.

2. A형 표준시험편의 사용방법

A형 표준시험편을 사용할 때에는 흠이 있는 면과 시험체의 탐상면이 서로 밀착되도록 점착성 테이프 등으로 탐상면에 고정시킨다. 이때 테이프가 A형 표준시험편의 자분모양이 나타나는 부분을 덮어서는 안 된다. 또한 A형 표준시험편 및 시험체의 부착 면은 미리 유기용제로 잘 세척하고 건조시켜야 한다.